中心研发成果在第十五届国际电子封装技术会议上荣获杰出论文奖

8月12日至15日，由中国电子学会主办，中国电子学会电子制造与封装技术分会（CIE-EMPT）、电子科技大学承办的第十五届国际电子封装技术会议（ICEPT 2014）在成都举行。

ICEPT会议多年来得到了IEEE-CPMT的全力支持和IMAPS、iNEMI等国际行业组织的积极参与，并得到了中国电子学会、中国科协的高度评价，已成为国际电子封装领域四大品牌会议之一，也为来自海内外学术界和工业界的专家、学者和研究人员提供了一个交流电子封装技术新进展、新思路的重要技术平台。

此次会议通过展览展示、专题讲座、特邀报告、主题论坛、分会报告、论文张贴等形式交流了电子封装技术领域的最新进展，有来自近20个国家和地区的代表参加，中心主任李世玮教授受邀出席了会议，并作了大会主题报告。

在此次会议上，中心发表的论文《Development of a Real-time Monitoring System with Uni-photodetector for LED Long Term Reliability Tests》获得了评审会的高度认可，从上百篇论文中脱颖而出，荣获杰出论文奖，并将被推荐到IEEE-CPMT 的相关期刊评审发表。（下图为长电先进公司总经理赖总向中心主任李世玮教授授予奖牌。）

论文主要介绍了中心于2014年3月成立的高附加价值LED创意产品研发室开发的老化测试实时检测系统，该系统可实时监控LED电光源在老化测试过程中的运行状态，从而提供连续和可靠的光电数据，实时记录样品失效的时间，预测LED寿命，并具有成本低，全自动化，显著减少数据采集时间，提高老化测试中光度测量的准确性，延长光度计使用寿命等优点，是LED行业在老化测试系统技术方面的创新突破，业内专家学者普遍认为该系统具有较大的推广价值和市场应用前景。该系统将于今年11月16-21日在深圳高交会上首次展出，以回馈行业的积极关注。

获此殊荣，一方面凸显了中心的研发实力，扩大了中心在行业内的知名度和影响力；另一方面，更体现出行业对中心的认可和激励，是中心努力前行、继续致力于开发先进技术、攻克行业关键共性技术难题的宝贵精神动力。